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二手JEOL IT-500HR場發射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優化的透鏡系統，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領域樣品觀測與成分檢測需求。

二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設備在半導體制造和納米材料研究領域具有廣泛的應用

二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續可調電壓精準適配各類樣品，配合E×B技術實現SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應用范圍：微區形貌、微區成分分析?？梢杂^察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

二手 牛津 EBSD NordlysMax3實時采集、標定和顯示結果速度高達1580點/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時采集分析EBSD和EDS數據，速度不衰減 同時保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員

二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應用于無機材料、高分子材料、復合材料、納米材料、半導體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結構觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質分析 ? 微區成份分析。

Hitachi 二手SU5000熱場式場發射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。

Hitachi 二手 SU-5000場發射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學系統，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領域。

二手 日立 SU-5000 熱場發射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。

二手 蔡司 sigma300 場發射電鏡分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。 Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。